產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
ME045/ME085/ME150PCB TDR特性阻抗測(cè)試儀
3380/3380P/3380D致茂Chroma 3380/3380P/3380D VLSI測(cè)試系統(tǒng)
SDS1122E+鼎陽(yáng)SDS1122E+數(shù)字示波器
UT89X/UT89XD優(yōu)利德UT89X/D系列專業(yè)NCV數(shù)字式萬用表
UTG932/UTG962優(yōu)利德UTG932/UTG962函數(shù)任意波形發(fā)生器
E8900A德力 5G NR 信號(hào)分析儀
ME-2SYQ-2型淬火介質(zhì)冷卻特性測(cè)試儀
UT890C/D/C+/D+優(yōu)利德UT890C/D/C+/D+數(shù)字萬用表
DS1202Z-E/DS1102Z-E普源 DS1202Z-E/DS1102Z-E 數(shù)字示波器
MSO58/MSO56/MSO54泰克Tektronix MSO54/56/58混合信號(hào)示波器
UTP1306S優(yōu)利德UTP1306S系列直流穩(wěn)壓電源
AN1640H/AN1651H艾諾Ainuo AN1640系列智能安規(guī)測(cè)試儀
UTD7072BG/UTD7102BG優(yōu)利德UTD7072BG/UTD7102BG數(shù)字存儲(chǔ)示波器
EDX6600多功能RoHs鹵素元素測(cè)試儀
艾諾 AN87310艾諾Ainuo AN87310 高精度單相功率計(jì)
UT582/UT585/UT586/UT582+優(yōu)利德UT582/UT585/T586漏電保護(hù)開關(guān)測(cè)試儀
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心測(cè)試系統(tǒng)致茂測(cè)試系統(tǒng)
product
產(chǎn)品分類
致茂Chroma 3270微型 IC 測(cè)試分類機(jī) 適合 CMOS 影像感應(yīng)組件量產(chǎn)需求 可靠的高速 Pick&Place 分類機(jī) 3x3 mm 微型 IC 處理能力 浮動(dòng)頭可有效率平衡測(cè)試壓力 自動(dòng)測(cè)試壓力學(xué)習(xí) IC 殘留檢測(cè)功能
更新時(shí)間：2024-11-29
產(chǎn)品型號(hào)：3270
瀏覽量：1537
致茂Chroma 3260自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī) 可靠的高速Pick&Place分類機(jī) 同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì) 具備處理QFP的能力 簡(jiǎn)易編輯通訊定義（ECD）功能 無測(cè)試座損壞的問題 浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：3260瀏覽量：1571
致茂Chroma 3240自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī) 可靠的高速Pick&Place分類機(jī) 同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì) 具備處理QFP的能力 簡(jiǎn)易編輯通訊定義（ECD）功能 無測(cè)試座損壞的問題 浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：3240瀏覽量：1454
致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機(jī) 符合成本效益的RF整合方案 客制RF隔離室和整合Tester安裝 可調(diào)整測(cè)試間距至120mm 具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn) 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm 精確的定位能力 支援JEDEC和EIA料盤
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：3240-Q瀏覽量：1576
致茂Chroma 3180八站邏輯測(cè)試分類機(jī) 具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn) 9Kpcs 產(chǎn)能 彈性的多測(cè)點(diǎn)架構(gòu) 減輕壓測(cè)力 自動(dòng)壓測(cè)力學(xué)習(xí) 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到50x50 mm 溫度測(cè)試范圍從常溫到高溫150 ℃ 連續(xù)自動(dòng)重測(cè)功能
更新時(shí)間：2024-11-29產(chǎn)品型號(hào)：3180瀏覽量：1330